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본 발명은 판넬 표준 시험용 지그 구조가 개시된다, 본 발명의 일측면에 따른 판넬 표준 시험용 지그 구조는, 프레임과, 상기 프레임 내측에 배치되어 시료가 안착되는 시료안착부와, 상기 프레임에 형성되는 절곡된 레일부, 및 상기 레일부를 따라 수평 및 수직방향으로 이동 및 고정 가능하며, 상기 시료에 하중을 가하는 가력부를 포함한다.
